超聲波顯微鏡，英文名Scanning Acoustic Tomography，簡稱SAT。超聲波發(fā)射后傳遞到樣品封裝內(nèi)部，如遇到任何缺陷點都會表現(xiàn)在反射波的形態(tài)中。設(shè)備根據(jù)反射波的形態(tài)計算出圖像，檢測人員可快速鎖定缺陷的位置、尺寸和類型。
超聲波顯微鏡分析在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性檢測(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等方面都有廣泛應用，適用于檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋、空洞等缺陷。
提到SAT，就很容易聯(lián)想到同為無損檢測的X-Ray，它們的成像原理不同，在實際檢測工作中也是互補關(guān)系。本期內(nèi)容我們將重點了解SAT測試，至于它們的差異我們以后有機會給大家介紹。
超聲波掃描顯微鏡具有如下特性：
1：非破壞性，對樣品內(nèi)部封裝狀況不產(chǎn)生損傷；
2：檢測時對樣品無特殊要求，表面平整即可檢測；
3：能得出直觀的圖像，便于分析；
4：對樣品及人體無害；
創(chuàng)芯在線檢測中心已配置低頻15MHz、30MHz、40MHz、75MHz，到高頻100MHz、230MHz等全系探頭，可滿足DIP , PLCC , TO, QFP, BGA , SOP , SOT ,QFN , TQFP, DFN, Flip Chip, WLCSP等不同封裝的集成電路及PCB檢測。
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需要注意，進行SAT檢測時，樣品要置于水中，因為超聲波是以水作為傳輸?shù)慕橘|(zhì)；檢測完成后，樣品需要進行烘烤，以恢復原來狀態(tài)。實際應用中，超聲波掃描的反射模式和透射模式我們都會用到，前者可聚焦樣品封裝內(nèi)的某一層，鎖定缺陷的具體位置，后者則是穿透樣品的上下兩個面，全方位地查找缺陷。
下面我們來看一些不同封裝的樣品接受SAT檢測的案例：
案例一、SOT封裝檢測案例
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案例二、SOP8封裝檢測案例
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案例三、QFP封裝檢測案例
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案例四、TO封裝檢測案例
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從以上四個案例可見，SAT檢測可準確找出樣品內(nèi)部缺陷點，是檢測工作中不可缺少的“利器”。如您在物料品質(zhì)管控以及失效分析等方面有任何SAT檢測的需求，可隨時與我們聯(lián)系。
創(chuàng)芯在線檢測中心—您身邊的IC檢測專家
關(guān)于創(chuàng)芯檢測：深圳創(chuàng)芯在線檢測技術(shù)有限公司成立于2018年，隸屬于創(chuàng)新在線科技集團旗下，是一家具有行業(yè)權(quán)威性的獨立第三方專業(yè)電子元器件檢測機構(gòu)，建有標準化實驗室2個，實驗室面積1800平米以上，擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團隊，國際先進的檢測設(shè)備，已取得CNAS認證并獲國際互認資質(zhì)。2020年全資收購深圳市英賽爾電子有限公司后，全面加強在芯片分析方面的測試和分析開發(fā)能力，現(xiàn)已開發(fā)上千種功能測試板，充分滿足客戶快捷、高效、大批量的測試需求。
