EMC電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目包括哪些方面?

日期:2022-11-28 15:31:00 瀏覽量:2264 標(biāo)簽: EMC測(cè)試 電磁兼容

EMC,中文即電磁兼容性,是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中滿足要求,不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備造成無(wú)法忍受的電磁騷擾的能力。EMC測(cè)試又稱電磁兼容性(EMC),是指對(duì)電子產(chǎn)品電磁場(chǎng)干擾大小(EMI)和抗干擾能力(EMS)的綜合評(píng)價(jià),是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一。

電磁兼容性試驗(yàn)包括電磁發(fā)射和電磁敏感度試驗(yàn)兩類(EMS和EMI兩部分)。電磁兼容性試驗(yàn)是指在實(shí)驗(yàn)室或外場(chǎng)環(huán)境條件下,利用電磁干擾檢測(cè)設(shè)備和電磁干擾產(chǎn)生設(shè)備,對(duì)系統(tǒng)、設(shè)備的電磁兼容性進(jìn)行考核的試驗(yàn)。電磁兼容性測(cè)試對(duì)象包括信息技術(shù)設(shè)備和家用電器,電動(dòng)工具及類似設(shè)備、消防電子產(chǎn)品、電氣照明及類似設(shè)備、工業(yè)設(shè)備、科學(xué)與醫(yī)療射頻設(shè)備、船舶電氣與電子設(shè)備、汽車(chē)電子部件與整車(chē)、低壓開(kāi)關(guān)與控制設(shè)備等。

EMC電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目包括哪些方面?

常規(guī)的電磁兼容EMC測(cè)試項(xiàng)目包括如下內(nèi)容:

1、輻射發(fā)射試驗(yàn)(RE)

測(cè)試電子、電氣和機(jī)電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射,包括來(lái)自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射,用來(lái)鑒定其輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求,一致在正常使用過(guò)程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。

2、傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)(CE)

為了衡量設(shè)備從電源端口、信號(hào)端口向電網(wǎng)或信號(hào)網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)母蓴_信號(hào)是否超標(biāo)。

3、靜電放電抗擾度測(cè)試(ESD)

測(cè)試單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電放電干擾能力,它模擬:操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)的放電;人或物體對(duì)臨近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生以下后果:直接通過(guò)能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞、放電所引起的電場(chǎng)磁場(chǎng)變化,造成設(shè)備的誤動(dòng)作。放電的噪聲電流導(dǎo)致器件的誤動(dòng)作。

4、射頻輻射電磁場(chǎng)的抗擾度測(cè)試(RS)

對(duì)設(shè)備的干擾往往是設(shè)備操作、和安全檢查人員在使用移動(dòng)電話時(shí)所產(chǎn)生的,電臺(tái)、電視發(fā)射臺(tái)、移動(dòng)電發(fā)射機(jī)和各種工業(yè)電磁輻射源,以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射,都會(huì)產(chǎn)生射頻輻射干擾。測(cè)試的目的是建立一個(gè)共同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)評(píng)價(jià)電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾能力。

5、電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試(EFT)

電路中機(jī)械開(kāi)關(guān)對(duì)電感性負(fù)載的切換,通常會(huì)對(duì)同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。測(cè)試的機(jī)理是利用群脈沖產(chǎn)生的共模電流流過(guò)線路時(shí),對(duì)線路分布電容能量的積累效應(yīng),當(dāng)能量積累到一定程度時(shí)就可能引起線路(乃至設(shè)備)工作出錯(cuò)。通常測(cè)試設(shè)備一旦出錯(cuò),就會(huì)連續(xù)不斷的出錯(cuò),即使把脈沖電壓稍稍降低,出錯(cuò)情況依然不斷的現(xiàn)象加以解釋。脈沖成群出現(xiàn),脈沖重復(fù)頻率較高,波形上升時(shí)間短暫,能量較小,一般不會(huì)造成設(shè)備故障,使設(shè)備產(chǎn)生誤動(dòng)作的情況多見(jiàn)。

6、雷擊浪涌沖擊抗擾度測(cè)試(Surge) 

浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試(Surge) 浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試(Surge immunity test,簡(jiǎn)稱Surge),又稱雷擊測(cè)試, 浪涌(沖擊)是由設(shè)備組合對(duì)地系統(tǒng)的短路和電弧故障和外界雷電耦合, 或直接擊于外部(戶外)電路,注入的大電流流過(guò)接地電阻或外部電 路阻抗而產(chǎn)生的能量,浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試主要是模擬上述能量通 過(guò)連接線纜(電源線等)對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)生的干擾。

7、射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試(CS)

模擬對(duì)講機(jī)、手機(jī)、基站等射頻信號(hào),耦合到(EUT)被試品上面所造成的射頻干擾。主要是評(píng)估電子設(shè)備承受來(lái)自150KHz~80MHz頻率范圍內(nèi)射頻發(fā)射機(jī)電磁騷擾的傳導(dǎo)抗擾度要求。至少通過(guò)一條連接電纜與射頻場(chǎng)相耦合所產(chǎn)生的干擾,變成傳導(dǎo)干擾入侵設(shè)備內(nèi)部,終以射頻電壓電流形成的近場(chǎng)電磁場(chǎng)影響設(shè)備工作。

8、電壓跌落、斷時(shí)中斷和電壓漸變抗擾度測(cè)試

電壓暫降,短時(shí)中斷是由電網(wǎng),電力設(shè)施的故障或電網(wǎng)負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次的暫降和中斷。電壓變化是由電網(wǎng)負(fù)荷連續(xù)發(fā)生變化引起的。

電磁兼容EMC測(cè)試還包括:工頻磁場(chǎng)、脈沖磁場(chǎng)、阻尼振蕩磁場(chǎng)、振鈴波、振蕩波、低頻共模傳導(dǎo)抗擾度、工頻頻率變化、電源端口諧波抗擾度試驗(yàn)等檢測(cè)項(xiàng)目,只是這些檢測(cè)項(xiàng)目不是特別常用,一般電力裝備、風(fēng)力發(fā)電設(shè)備等需要做工頻磁場(chǎng)、脈沖磁場(chǎng)、阻尼振蕩磁場(chǎng)、振鈴波等抗擾度試驗(yàn)。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的EMC電磁兼容測(cè)試相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè)、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè)。歡迎致電,我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)!

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