電子元器件做老化測(cè)試的重要性
日期：2022-11-30 15:28:00 瀏覽量：1181 標(biāo)簽: 電子元器件檢測(cè) 老化測(cè)試
在PCB電路板和元器件生產(chǎn)制造過程中，提高貼片加工的生產(chǎn)效率和良品率尤為重要，為企業(yè)降低生產(chǎn)成品，可以提高企業(yè)的經(jīng)濟(jì)效益。老化測(cè)試的目的是為了在最短時(shí)間內(nèi)利用實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備模擬實(shí)際運(yùn)行中絕緣材料在長(zhǎng)期工作下其絕緣性能的變化。由此，實(shí)驗(yàn)研究部門的科學(xué)家做了大量的研究和實(shí)驗(yàn)探索，最終確定了絕緣材料模擬加速老化實(shí)驗(yàn)方法。
所說的加速老化就是通過實(shí)驗(yàn)室人為的加速絕緣材料的老化從而加快完成實(shí)驗(yàn)。較好的人工加速老化的實(shí)驗(yàn)方法必須具備等價(jià)性、典型性和可重復(fù)性，其中等價(jià)性往往最具有重要性，因?yàn)榫哂械葍r(jià)性才能真實(shí)反映絕緣材料的老化過程。
如何提高生產(chǎn)效率和良品率，需要我們?cè)谕度氪笠?guī)模產(chǎn)量之前，進(jìn)行smt貼片加工可焊性測(cè)試，這時(shí)我們需要對(duì)測(cè)試pcb原型的樣品進(jìn)行老化處理。因?yàn)?，剛剛生產(chǎn)出來的元器件或PCB電路板，其焊接面的可焊性一般是不存在問題的，但是存放一段時(shí)間后，就會(huì)因?yàn)檠趸霈F(xiàn)劣化，測(cè)試必須考慮正常儲(chǔ)存條件對(duì)可焊性的影響。
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發(fā)現(xiàn)一項(xiàng)技術(shù)是否合適取決于焊端鍍層的金屬性能和預(yù)期引起產(chǎn)品質(zhì)量下降的原因。在pcb電子制造行業(yè)，元器件和PCB往往要求有一定的儲(chǔ)存保質(zhì)期，通常為6-12個(gè)月。因此，要等待這段周期后再進(jìn)行測(cè)量顯然不切實(shí)際，因而必須采用加速存放老化的方法，最常用的試驗(yàn)設(shè)備為高壓加速老化試驗(yàn)箱。
通過對(duì)加速老化進(jìn)行了專題研究，包括從1h蒸汽老化到一個(gè)月或數(shù)個(gè)月的濕熱條件測(cè)試技術(shù)。對(duì)錫合金而言氧化是主要原因，而對(duì)貴金屬鍍層而言則擴(kuò)散是主要原因。電子制造業(yè)界通常的做法是，對(duì)錫合金采用8~24h的蒸汽老化；對(duì)主要由擴(kuò)散而引起品質(zhì)下降的鍍層，采用115℃、16h干熱老化；對(duì)品質(zhì)下降機(jī)理不明的鍍層，則采用蒸汽老化。
經(jīng)過對(duì)不同因素影響所導(dǎo)致的焊接質(zhì)量下降采取一定的老化措施，不僅能夠保證SMT加工的順利進(jìn)行，也能夠保證PCBA加工的直通率，以達(dá)到提高貼片加工的生產(chǎn)效率和良品率。
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