高溫高濕測試給產(chǎn)品帶來哪些影響?標(biāo)準(zhǔn)是什么?

日期:2022-12-01 15:34:43 瀏覽量:1824 標(biāo)簽: 高溫高濕測試

高溫高濕測試即模擬產(chǎn)品存儲(chǔ)、工作的溫濕度環(huán)境,檢驗(yàn)產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時(shí)間后所受到的影響是否在可接受的范圍內(nèi)。產(chǎn)品存儲(chǔ)、工作的環(huán)境都帶有一定的溫度、濕度,而且有些環(huán)境的溫度、濕度比較高。產(chǎn)品長時(shí)間處于這種較高的溫濕度環(huán)境下,性能、壽命會(huì)受到一定的影響。所以需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高溫高濕測試,以了解產(chǎn)品這方面的性能,如果達(dá)不到要求,就需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的改進(jìn)。

高溫高濕測試是用帶加熱、制冷、加濕、除濕功能的設(shè)備溫濕度箱,測試前檢查產(chǎn)品的相關(guān)功能、性能等是否正常并拍照,然后將產(chǎn)品放置于溫濕度箱中,開機(jī)并設(shè)置溫濕度箱的溫度、濕度及測試時(shí)長。比如70℃,95%濕度,測試168小時(shí)。設(shè)置好后讓溫濕度箱工作,測試開始。到達(dá)設(shè)置的結(jié)束時(shí)間后,將產(chǎn)品取出,再次檢查產(chǎn)品的相關(guān)功能、性能等跟測試前是否有什么變化,以此判斷產(chǎn)品是否滿足具測試要求。有時(shí)候測試過程中也需要將產(chǎn)品拿出檢查,以了解產(chǎn)品在不同測試時(shí)間下的狀態(tài)。如果還沒到預(yù)設(shè)的測試完成時(shí)間產(chǎn)品所受的影響已經(jīng)超出可接受的范圍,就可以提前終止測試,尋找方案解決問題,待產(chǎn)品改進(jìn)后再重新測試。

高溫高濕測試給產(chǎn)品帶來哪些影響?標(biāo)準(zhǔn)是什么?

高溫高濕測試分高溫高濕存儲(chǔ)和高溫高濕運(yùn)行。高溫高濕存儲(chǔ)是在產(chǎn)品非工作狀態(tài)下進(jìn)行測試。高溫高濕運(yùn)行是針對(duì)電子產(chǎn)品在產(chǎn)品通電工作狀態(tài)下進(jìn)行的測試。

高溫對(duì)產(chǎn)品的影響

溫度升高, 材料分子運(yùn)動(dòng)速度加劇, 分子動(dòng)能的增加將導(dǎo)致物體的膨脹、相態(tài)轉(zhuǎn)換和物理化學(xué)特性的變化, 從而引發(fā):

a) 絕熱物質(zhì)失效 — 材料熱老化(導(dǎo)熱率增大);

b) 變形、卡死、爆裂 (結(jié)構(gòu)損壞) — 高溫下氣態(tài)、液態(tài)、固態(tài)物體的膨脹或尺寸的增加;

c) 電氣性能變化、電接觸不良、介質(zhì)擊穿 — 電阻率、電導(dǎo)率增大, 表面高溫氧化, 材料間相互擴(kuò)散加劇

d) 潤滑性能下降(磨損)或喪失(結(jié)構(gòu)損壞) — 化學(xué)反應(yīng)引起潤滑劑變質(zhì), 粘度隨溫度升高而降低;

e) 物質(zhì)相態(tài)變化 — 高溫下物質(zhì)軟化、熔化、蒸發(fā)、升化;

f) 更高的溫度, 如達(dá)到距離點(diǎn)固體會(huì)失去磁性, 物體在強(qiáng)電介質(zhì)中會(huì)失去極性, 達(dá)到超導(dǎo)電性臨界溫度時(shí), 物體出現(xiàn)超導(dǎo)電性能

g) 有機(jī)材料褪色、裂解或龜裂;

h) 密封殼體(炮彈、炸彈等)內(nèi)物質(zhì)因熱脹產(chǎn)生高壓;

I) 合成材料在高溫下放氣, 喪失真空度。

濕度對(duì)產(chǎn)品的影響

濕度會(huì)影響產(chǎn)品外在的物理特性和化學(xué)性能, 濕度和溫度總是同時(shí)存在的相互耦合的環(huán)境因素。濕熱的共同作用會(huì)引發(fā):

a)、加速金屬表面的氧化和電蝕作用;

b)、加速表面有機(jī)涂層電化學(xué)反應(yīng), 破壞表面涂層的保護(hù)作用;

c)、由于材料的吸附作用導(dǎo)致材料膨脹, 從而引發(fā)結(jié)構(gòu)的損傷;

d)、由于吸濕、吸附等物理現(xiàn)象的影響, 會(huì)引起電氣絕緣性能降)低;

e)、由于凝露和游離的水汽, 會(huì)導(dǎo)致電氣短路, 熱傳遞特性變差, 光學(xué)器件成像與傳輸質(zhì)量變壞。

常用標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60068、GB/T 2423:應(yīng)用最廣泛的環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了設(shè)備主要參數(shù)、試驗(yàn)條件、嚴(yán)酷等級(jí)等。

ISO 16750-4 :歐系車常用的標(biāo)準(zhǔn),并且逐漸被各國家標(biāo)準(zhǔn)和各企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)所引用。

SAE J1211、SAE J1455 :美國汽車工程師協(xié)會(huì)制定的汽車電氣部件環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

高溫試驗(yàn):IEC 60068-2-2 GB/T 2423.2

低溫試驗(yàn):IEC 60068-2-1 GB/T 2423.1

溫度循環(huán)試驗(yàn):IEC 60068-2-14 GB/T 2423.22

溫度沖擊試驗(yàn):IEC 60068-2-14 GB/T 2423.22 EIA-364 IPC-TM650

濕熱試驗(yàn):IEC 60068-2-30 GB/T 2423.3(恒定濕熱) GB/T 2423.4(交變濕熱)

與高溫高濕測試同類型環(huán)境可靠性測試項(xiàng)目還有:高溫測試、恒溫恒濕測試、低溫測試、高低溫循環(huán)測試、交變濕熱測試、高低溫沖擊測試等。

以上便是此次創(chuàng)芯檢測帶來的“高溫高濕測試”相關(guān)內(nèi)容,希望能對(duì)大家有所幫助,我們將于后期帶來更多精彩內(nèi)容。公司檢測服務(wù)范圍涵蓋:電子元器件測試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測試項(xiàng)目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測,我們將竭誠為您服務(wù)。

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實(shí)驗(yàn)室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價(jià)函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價(jià)延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個(gè)月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動(dòng)元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場翻轉(zhuǎn),漲價(jià)來襲!

據(jù)媒體近日報(bào)道,內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價(jià),至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng),MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日報(bào)道,MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場,臺(tái)廠國巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著,華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過39萬個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn),深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測定試驗(yàn)。可靠性測定試驗(yàn)是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測試。這篇文章就是對(duì)測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情