電子元器件常見失效階段包括哪些?

日期:2022-12-20 15:00:27 瀏覽量:1978 標(biāo)簽: 電子元器件失效分析 失效分析

在早期失效階段,有缺陷的、受污染的或處于臨界狀態(tài)的電子元器件會(huì)在這個(gè)時(shí)期失效而暴露出來(lái)。這個(gè)階段時(shí)間很短,有的元器件僅幾天便會(huì)失效,早早地便被淘汰。正常失效期為元器件的正常工作階段,也是元器件的壽命期限。本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。

電子元器件常見失效階段包括哪些?

大量同類元器件的失效可以分成三個(gè)階段:

1)早期失效期

新制造的電子器件,剛投入使用一段時(shí)間叫做早期失效。早期失效的特點(diǎn)是失效率高,但隨著工作時(shí)間的增加而迅速降低。這一段的失效原因有的是制造器件的原材料的缺陷造成;有的是元器件的生產(chǎn)過(guò)程中工藝措施不當(dāng)造成的。

總的來(lái)說(shuō),早期失效是元器件本身設(shè)計(jì)和制造的缺陷而隱藏在內(nèi)部的一種潛在故障。在使用中會(huì)繼續(xù)惡化,故障暴露出來(lái)而造成的失效。所以元器件的早期失效對(duì)使用者來(lái)說(shuō)是十分有害的。在整機(jī)生產(chǎn)的工藝過(guò)程中,元器的老化篩選的主要目就是加速早期失效,使整機(jī)出廠前就進(jìn)入到正常的使用階段,篩選掉早期失效的元器件,保證整機(jī)的可靠工作。

2)偶然失效期

電子元器件在早期失效器后,就進(jìn)入到偶然失效期。這一階段的特點(diǎn)是失效率低而穩(wěn)定,而表現(xiàn)的是偶然性質(zhì)。這是元器件最好的工作階段。因?yàn)檫@一段使用時(shí)間長(zhǎng),所以也叫使用壽命期。一個(gè)好的集成電路,其偶然失效可達(dá)百萬(wàn)小時(shí)以上。

在此期間的失效原因,可以看成是在某一時(shí)刻元器件所積累的應(yīng)力(指對(duì)器件的功能有影響的各種因素,如溫度,電壓,電流和機(jī)械應(yīng)力等)超過(guò)元器件對(duì)抗這些應(yīng)力的強(qiáng)度。一般有下列三種情況:遭受突然的機(jī)械沖擊或熱沖擊引起引線斷脫等;因?yàn)榇箅娏饕鸬慕Y(jié)的損壞;環(huán)境變化超過(guò)了適用范圍,使元器件特性變化過(guò)大而不能工作,甚至失效。

對(duì)于上述情況,應(yīng)從最壞的情況出發(fā),考慮到元器件參數(shù)的可能變化的范圍進(jìn)行電路設(shè)計(jì),并考慮一些具體措施,如散熱通風(fēng)措施和防電磁干擾措施等,以避免環(huán)境變化超過(guò)適用范圍。

3)損耗失效期

元器件經(jīng)過(guò)正常使用其后,由于老化,損耗,磨損和疲勞等原因,失效率隨著工作時(shí)間的增加而上升,這一階段叫做損耗失效期,又叫晚期失效期。

損耗失效主要是由于材料的化學(xué)和物理變化引起的,如管子內(nèi)部引線鍵合點(diǎn)表面長(zhǎng)期氧化而表面氧化使電阻增大,導(dǎo)致熱量過(guò)大而使鍵合點(diǎn)開路;又如表面化學(xué)反應(yīng),改變電子空穴的分布,產(chǎn)生反型層,形成導(dǎo)電溝道,使反向電流增大,參數(shù)變壞而使器件失效等。損耗失效是正常的自然規(guī)律,表明元器件已到額定使用期,對(duì)此采取的措施是定期更換。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的電子元器件常見失效階段相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè)、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè)。歡迎致電,我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)!

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價(jià)函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過(guò)去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價(jià)延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無(wú)意外,缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來(lái)梳理一下過(guò)去的一個(gè)月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來(lái)西亞管控延長(zhǎng),被動(dòng)元件又懸了?

自五月以來(lái),馬來(lái)西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢(shì)之下,馬來(lái)西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢(shì)。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場(chǎng)翻轉(zhuǎn),漲價(jià)來(lái)襲!

據(jù)媒體近日?qǐng)?bào)道,內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價(jià),至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng),MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日?qǐng)?bào)道,MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場(chǎng),臺(tái)廠國(guó)巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著,華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過(guò)39萬(wàn)個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn),深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測(cè)試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)??煽啃詼y(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。可通過(guò)可靠度、失效率還有平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié),無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開放的資源,來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過(guò)芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測(cè)試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹,一起來(lái)看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情