淺析IGBT的工作結構與工作原理

日期:2024-03-21 16:11:33 瀏覽量:438 標簽: IGBT檢測

IGBT,即絕緣柵雙極型晶體管,是電力電子領域的重要元件,具有電壓控制、驅動簡單、高速開關、低功耗、安全工作區(qū)域大、可承受高電流/電壓等優(yōu)點。本文將詳細介紹IGBT的結構及工作原理。

一、IGBT的結構

IGBT由三部分組成:一個P型半導體(稱為壓控開關二極管或JFET)和兩個N型半導體。壓控開關二極管位于頂部,兩個N型半導體位于底部,形成兩個集電區(qū)。通過在集電區(qū)之間施加電壓,可以控制二極管的通斷,從而實現(xiàn)對電流的開關控制。

二、IGBT的工作原理

IGBT的工作原理主要基于電壓控制和載流子的復合調制。當加正向電壓時,即P型半導體與N型半導體之間加正向電壓時,即UCE<0時,即發(fā)射極與集電極之間加正向電壓時,即UCE>0時,電子從N型半導體流向P型半導體,形成電流。同時,少量的空穴從P型半導體流向N型半導體,形成反向電流。這時,IGBT處于導通狀態(tài)。

當加反向電壓時,即P型半導體與N型半導體之間加反向電壓時,即UCE>0時,即發(fā)射極與集電極之間加反向電壓時,即UCE<0時,空穴從P型半導體流向N型半導體,電子從N型半導體流向P型半導體,形成很小的電流,這時,IGBT處于關斷狀態(tài)。

淺析IGBT的工作結構與工作原理

三、IGBT的開關過程

IGBT的開關過程包括開通和關斷兩個階段。在開通階段,當加正向電壓時,即UCE<0時,電子從N型半導體流向P型半導體,形成大量電流。這時,少量的空穴從P型半導體流向N型半導體,形成反向電流。當電流達到一定值時,IGBT進入飽和狀態(tài)。

在關斷階段,當加反向電壓時,即UCE>0時,空穴從P型半導體流向N型半導體,電子從N型半導體流向P型半導體,形成很小的電流。隨著時間的推移,電子和空穴逐漸減少,電流減小,最后達到零。這時,IGBT處于關斷狀態(tài)。

四、影響IGBT性能的因素

影響IGBT性能的因素主要有以下幾點:

開關速度:IGBT的開關速度對其性能有著重要影響。開關速度過快可能導致浪涌電流過大而損壞IGBT;開關速度過慢則會導致?lián)p耗增加。

熱性能:IGBT在高溫下容易發(fā)生熱崩潰和熱擊穿等問題。因此,需要采取有效的散熱措施以提高其熱性能。

安全工作區(qū)域:IGBT的安全工作區(qū)域受其物理特性的限制。在應用中,需要確保其工作在安全工作區(qū)域內以避免損壞或失效。

驅動電路:IGBT的驅動電路對其性能也有重要影響。合適的驅動電路可以提高IGBT的性能和穩(wěn)定性。

綜上所述,IGBT的結構與工作原理對其性能和穩(wěn)定性有著重要影響。了解IGBT的結構和工作原理有助于更好地應用和優(yōu)化其性能。隨著電力電子技術的發(fā)展,IGBT將在更多領域得到廣泛應用。

微信掃碼關注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
相關閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價函不斷,疫情影響供應鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價延續(xù),IC產業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個月,業(yè)內都有哪些值得關注的熱點。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個月的全面行動管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內存市場翻轉,漲價來襲!

據(jù)媒體近日報道,內存正在重回漲價模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達30%。據(jù)行情網站數(shù)據(jù),各類內存條、內存顆粒在12月上旬起開始漲價,至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動元件漲價啟動,MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺媒近日報道,MLCC兩大原廠三星電機和TDK近期對一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強調高容MLCC供貨緊張,即將對其調漲報價。在芯片電阻市場,臺廠國巨正式宣布從三月起漲價15-25%。緊接著,華新科也對代理商發(fā)出漲價通知,新訂單將調漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關查獲大批侵權電路板,共計超過39萬個

據(jù)海關總署微信平臺“海關發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經品牌權利人確認,深圳海關所屬福田海關此前在貨運出口渠道查獲的一批共計391500個印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標專用權。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項目及類型介紹

可靠性試驗是對產品進行可靠性調查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產品是否達到指標要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗??煽啃詼y定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则炞C試驗是用來驗證設備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產品進行可靠性測試的重要性及目的

產品在一定時間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。可通過可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評價產品的可靠性。而且這是一項重要的質量指標,只是定性描述就顯得不夠,必須使之數(shù)量化,這樣才能進行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導體失效分析測試的詳細步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設計與操作中的不當?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設計主要是版圖設計;采用電路板的主要優(yōu)點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產勞動率。PCB的質量非常關鍵,要檢查PCB的質量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情