三綜合試驗(yàn)是什么？三綜合試驗(yàn)通用檢測標(biāo)準(zhǔn)
日期：2021-07-29 11:38:00 瀏覽量：4243 標(biāo)簽: 三綜合測試 三綜合試驗(yàn) 可靠性測試
三綜合試驗(yàn)是指綜合溫度、濕度、振動三個環(huán)境應(yīng)力的試驗(yàn)。本試驗(yàn)是用于考核產(chǎn)品在溫濕度和振動三綜合的環(huán)境下運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對溫濕度及振動復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程必不可少的重要試驗(yàn)手段。還有沖擊和碰撞等，具體如何搭配測試根據(jù)客戶要求來定。
溫度振動試驗(yàn)（兩綜合試驗(yàn)：振動═溫度、溫度═濕度、振動═濕度；三綜合試驗(yàn)：振動═溫度═濕度），是由一臺恒溫恒濕試驗(yàn)箱或快速升降溫試驗(yàn)箱和振動臺組合而成的試驗(yàn)設(shè)備實(shí)現(xiàn)的試驗(yàn)條件。三綜合試驗(yàn)夠同時進(jìn)行溫濕度和振動對產(chǎn)品的影響。將單獨(dú)的環(huán)境應(yīng)力施加在產(chǎn)品上可激發(fā)出產(chǎn)品的故障，那么將三種不同的環(huán)境應(yīng)力施加在產(chǎn)品上則可輕易地得到3-5倍的加速效果。同時，通過將不同的環(huán)境應(yīng)力綜合還能激發(fā)出單獨(dú)應(yīng)力施加時所不能出現(xiàn)的故障。
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在進(jìn)行溫度，濕度，振動三種應(yīng)力同時施加的綜合試驗(yàn)時，從故障發(fā)生的機(jī)理來說，進(jìn)行溫度循環(huán)的產(chǎn)品內(nèi)部由于材料膨脹系數(shù)的差異發(fā)生伸縮，在結(jié)合部位發(fā)生松動，這時如果施加濕度，潮氣就會從縫隙間侵入，使結(jié)合部和連接處的摩擦系數(shù)降低。再施加振動應(yīng)力，相對于特定的頻率，產(chǎn)品的共振現(xiàn)象還會發(fā)生。像這樣通過運(yùn)動，吸濕，凍結(jié)，共振的反復(fù)過程，使新的失效模式（由大幅度加速的單獨(dú)因子失效模式和三種因子綜合的相疊加效果引起的）的出現(xiàn)成為可能。
三綜合測試：溫度+濕度+振動/沖擊/碰撞
溫度范圍：-70℃～+180℃
濕度范圍：10%RH～98%RH
溫變速率：≦20℃/min
振動推力：2200KGf,5500KGf
振動位移：≦90mm
振動頻率：≦2700Hz
振動加速度：≦100G
沖擊加速度：≦200G
脈寬：0.5ms～25ms
碰撞頻率：≦120次/min
三綜合試驗(yàn)檢測范圍：汽車零部件，緊固件，密封件，電子產(chǎn)品等。
三綜合試驗(yàn)檢測標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB/T 2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
2、GB/T 2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
3、GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
4、GB/T 2423.35-2005Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn)
5、GB/T 2423.35-2019環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)和導(dǎo)則 氣候(溫度、濕度)和動力學(xué)(振動、沖擊)綜合試驗(yàn)
6、GB/T 2423.36-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Z/BFe,散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn)
7、GB/T 2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
8、GB/T 2424.22-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
9、GB/T 5170.19-2018環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第19部分：溫度、振動(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
10、GB/T 12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)
三綜合測試目的及意義
三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶對整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對溫濕度及振動復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程必不可少的重要試驗(yàn)手段。
