電子元器件是電子產(chǎn)品的組成部分，受電子元器件質(zhì)量的影響，電子產(chǎn)品的質(zhì)量與性能也會發(fā)生變化。從20世紀50年代開始，國外就興起了可靠性技術(shù)研究，而國內(nèi)則是從改革開放初期開始發(fā)展。通過可靠性試驗，可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性特征量，為使用、生產(chǎn)和設(shè)計提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。
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失效分析（FA）
美國軍方在20世紀60年代末到70年代初采用了以失效分析為中心的元器件質(zhì)量保證計劃，通過制造、試驗暴露問題，經(jīng)過失效分析找出原因，改進設(shè)計、工藝和管理，而后再制造，再試驗，再分析，再改進的多次循環(huán)，在6～7年間使集成電路的失效率從7×10-5/h降到3×10-9/h，集成電路的失效率降低了4個數(shù)量級，成功的實現(xiàn)了“民兵Ⅱ”洲際導(dǎo)彈計劃、阿波羅飛船登月計劃?？梢奆A在各種重大工程中的作用是功不可沒的。歸結(jié)起來，F(xiàn)A的作用有主要以下5點：
1）通過FA得到改進設(shè)計、工藝或應(yīng)用的理論和思想。
2）通過了解引起失效的物理現(xiàn)象得到預(yù)測可靠性模型公式。
3）為可靠性試驗（加速壽命試驗、篩選）條件提供理論依據(jù)和實際分析手段。
4）在處理工程遇到的元器件問題時，為是否要整批不用提供決策依據(jù)。
5）通過實施FA的糾正措施可以提高成品率和可靠性，減少系統(tǒng)試驗和運行工作時的故障，得到明顯的經(jīng)濟效益。
破壞性物理分析（DPA）
DPA是作為失效分析的一種補充手段，在進行產(chǎn)品的交付驗收試驗時，由具有一定權(quán)威的第三方或用戶進行的一種試驗。它的主要特點是對合格元器件做分析。
DPA的作用：如何減少缺陷是pcba加工廠可靠性工作的重要內(nèi)容。即使是合格品，也可能存在缺陷。對合格品的分析就是采用與失效分析同樣的技術(shù)方法，調(diào)查評估特性良好的電子元器件的缺陷。二次篩選試驗中，采取對合格品抽樣進行分析的措施，很容易早期發(fā)現(xiàn)電子元器件的的缺陷，以反饋給pcba生產(chǎn)廠商改進和提高自己的生產(chǎn)工藝等。DPA有利于發(fā)現(xiàn)異常批次性的產(chǎn)品，以保證提高裝機產(chǎn)品的可靠性。
總的來說，這些都有利于拒用有批次性缺陷的電子元器件，從而更好的保證產(chǎn)品的可靠性。在二次篩選試驗中開展DPA與FA工作，對重大工程產(chǎn)品的質(zhì)量保障與可靠性提高都有著非常大的作用。
其他人為因素造成的失效
在電子元器件的篩選檢測過程中，主要還存在以下幾種方面失效：
1）程序設(shè)置不當造成電子元器件的檢測失效；
2）極性接反造成元器件失效；
3）錯誤信號造成元器件失效；
4）電應(yīng)力過沖造成元器件失效；
5）適配器誤用造成電子元器件失效；
6）插拔方式不當造成機械應(yīng)力失效；
7）在存放過程中誤將某些有極性的元器件放反等。
眾所周知，電子元器件是影響電子產(chǎn)品質(zhì)量的主要因素之一，如果說電子部件都出了問題，想必質(zhì)量一定會受到極大的影響。在電子元器件的篩選中，要注意質(zhì)量控制，統(tǒng)籌兼顧，科學(xué)選擇，簡化設(shè)計，合理運用元器件的性能參數(shù)，發(fā)揮電子元器件的功能作用。按照有利條件進行合理選擇，簡化電路設(shè)計提高可靠性，降額使用，可以提高產(chǎn)品的可靠性。
