在電子產(chǎn)品在加工過程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時(shí)可以使用，但在使用中缺陷會很快暴露出來，產(chǎn)品不能正常工作。潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn)，而是運(yùn)用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將最終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加。
老化（Burn in）老化也稱“老練”，是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時(shí)間內(nèi)對元器件連續(xù)施加環(huán)境應(yīng)力，而環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應(yīng)力，還包括其他很多應(yīng)力，例如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動等，通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程，促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。
_20211014115632_226.jpg "電子元器件老化性能測試的項(xiàng)目類型及目的")
那么為什么要進(jìn)行老化測試？又有什么意義？電子產(chǎn)品,不管是元件,部件,整機(jī),設(shè)備,都要進(jìn)行老化和測試。老化和測試不是一個(gè)概念.先老化后測試.電子產(chǎn)品(所有產(chǎn)品都是這樣)通過生產(chǎn)制造后,形成了完整的產(chǎn)品。已經(jīng)可以發(fā)揮使用價(jià)值了,但使用以后發(fā)現(xiàn)會有這樣那樣的毛病,又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大部分發(fā)生開始的幾小時(shí)至幾十小時(shí)之內(nèi),后來干脆就規(guī)定了電子產(chǎn)品的老化和測試,仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),這個(gè)過程由產(chǎn)品制造者來完成.通過再測試。把有問題的產(chǎn)品留在工廠,沒問題的產(chǎn)品給用戶,以保證買給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問題較少的.這就是老化測試的意義。
主要的老化試驗(yàn)項(xiàng)目是：
1、光老化測試：
光老化是戶外使用材料受到的主要老化破壞，對于室內(nèi)使用材料，也會受到一定程度的光老化。模擬光老化主要的三種燈源各有優(yōu)異，碳弧燈最早發(fā)明使用，建立的測量體系較早、很多日本標(biāo)準(zhǔn)和纖維材料方面的標(biāo)準(zhǔn)都使用碳弧燈，但由于碳弧燈價(jià)格較高、性能不夠穩(wěn)定（燈管使用90小時(shí)后需要更換），已經(jīng)逐漸被氙弧燈、紫外燈代替。氙燈在模擬自然光方面有較大優(yōu)勢，價(jià)格也相對較低，適合多數(shù)產(chǎn)品的使用。紫外燈產(chǎn)生的是400nm以下的光，能較好地加速模擬自然光中紫外線對材料的破壞作用，加速因子比氙燈要高，光源穩(wěn)定性也比氙燈要好，但容易產(chǎn)生非自然光產(chǎn)出的破壞（尤其是UVB燈）。QLH-010
主要應(yīng)用范圍：戶外、室內(nèi)使用的橡塑、涂料、油墨產(chǎn)品，通訊、電器等設(shè)備外殼，汽車件、摩托車配件。
2、熱老化
主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 7141、ASTM D3045、JIS K 6257等
熱老化箱具備程序功能，可以通過程序設(shè)定溫度變化，適合各種產(chǎn)品熱老化的需要呢。
主要應(yīng)用范圍：各種產(chǎn)品耐熱老化測試，如PCB板、電器中絕緣橡膠、長壽命需求產(chǎn)品（如斜拉索大橋用外套料，使用年限要20年以上）等，考察材料隨著使用時(shí)間的推移，產(chǎn)品性能的變化狀況，考察產(chǎn)品使用的可靠性。
3、濕熱老化
主要參考標(biāo)準(zhǔn)：通用標(biāo)準(zhǔn)有GB/T 15905、GB/T 2573等。
另外還可以根據(jù)不同的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定濕度、溫度的變化曲線，適合各種復(fù)雜的濕熱老化測試。產(chǎn)品使用過程中，容易受到溫度和濕度的雙重影響，對于一些對水敏感的材料，如PET、PBT等，需要進(jìn)行濕熱老化測試，以評定是否適合在潮濕的環(huán)境下長期使用。
4、鹽霧老化
主要參考標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 10125、GB/T 12000\、ASTM D117 、JISZ2371等標(biāo)準(zhǔn)
進(jìn)行中性鹽霧、酸性鹽霧、銅離子加速鹽霧測試。主要用于模擬大氣中的溶解于水蒸汽中的氯化鈉對涂層、鍍層等保護(hù)程以及金屬地材的腐蝕作用，尤其是沿海地區(qū)及內(nèi)陸鹽湖周邊地區(qū)，空氣中鹽分較高，產(chǎn)品很容易受到鹽霧腐蝕。主要適用產(chǎn)品：各類涂料，如建筑外墻涂料、船用涂料、貨柜用涂料等，各類鍍層。
5、臭氧老化
主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 7762、GB/T 24134、GB/T 13642、HG/T 2869、JIS K 6259、ASTM D 1149。
主要考察橡膠耐臭氧性能（橡膠中含有大量雙鍵，容易受到臭氧攻擊，尤其是在動態(tài)使用或者是拉伸時(shí)，臭氧對橡膠的破壞更加嚴(yán)重），也可以考察TPU、EPDM等新型彈性體的抗臭氧性能。。
6、高低溫循環(huán)
主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423，JG/T 25建筑涂料涂層耐凍融循環(huán)性測定法等標(biāo)準(zhǔn)，可以按照不同產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中，關(guān)于高低溫循環(huán)、凍融循環(huán)的相關(guān)測試方法來開展試驗(yàn)。主要用于建筑涂料、特殊環(huán)境使用設(shè)備等檢測。
電子元器件老化測試注意事項(xiàng)
為了使老化取得滿意的效果，應(yīng)注意下面幾點(diǎn)：
(1)老化設(shè)備應(yīng)有良好的防自激振蕩措施。
(2)給器件施加電壓時(shí)，要從零開始緩慢地增加，去電壓時(shí)也要緩慢地減小，否則電源電壓的突變所產(chǎn)生的瞬間脈沖可能會損傷器件。老化后要在標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范規(guī)定的時(shí)間內(nèi)及時(shí)測量，否則某些老化時(shí)超差的參數(shù)會恢復(fù)到原來的數(shù)值。
(3)為保證晶體管能在最高結(jié)溫下老化，應(yīng)準(zhǔn)確測量晶體管熱阻。
對于集成電路來說，由于其工作電壓和工作電流都受到較大的限制，自身的結(jié)溫溫升很少，如不提高環(huán)境溫度很難達(dá)到有效地老化所需的溫度。因此，常溫靜態(tài)功率老化只在部分集成電路（線性電路和數(shù)字電路）中應(yīng)用。
以上便是此次創(chuàng)芯檢測帶來的“電子元器件老化性能測試”相關(guān)內(nèi)容，希望能對大家有所幫助，我們將于后期帶來更多精彩內(nèi)容。公司檢測服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測試項(xiàng)目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測，我們將竭誠為您服務(wù)。
