接觸電阻測試(Contact resistance test)-電性能測試

日期:2021-10-29 15:23:00 瀏覽量:4007 標簽: 電性能測試 接觸電阻測試

目錄

概述

作用原理

影響因素

要求標準

測試內容

方法步驟

典型方法

目的

說明


接觸電阻測試介紹

接觸電阻測試也稱為Ductor測試,測量電氣連接的電阻-端子,接頭,連接器,母線段或電纜連接等。這類測量是在諸如連接器、繼電器和開關等元件上進行的。接觸電阻測試可以了解線路的連接質量和其導電特性,避免使觸點產生危險的過熱現(xiàn)象。

接觸電阻作用原理

在顯微鏡下觀察連接器接觸件的表面,盡管鍍金層十分光滑,則仍能觀察到5-10微米的凸起部分。會看到插合的一對接觸件的接觸,并不整個接觸面的接觸,而是散布在接觸面上一些點的接觸。實際接觸面必然小于理論接觸面。根據(jù)表面光滑程度及接觸壓力大小,兩者差距有的可達幾千倍。實際接觸面可分為兩部分;一是真正金屬與金屬直接接觸部分。即金屬間無過渡電阻的接觸微點,亦稱接觸斑點,它是由接觸壓力或熱作用破壞界面膜后形成的。部分約占實際接觸面積的5-10%。二是通過接觸界面污染薄膜后相互接觸的部分。因為任何金屬都有返回原氧化物狀態(tài)的傾向。

實際上,在大氣中不存在真正潔凈的金屬表面,即使很潔凈的金屬表面,一旦暴露在大氣中,便會很快生成幾微米的初期氧化膜層。例如銅只要2-3分鐘,鎳約30分鐘,鋁僅需2-3秒鐘,其表面便可形成厚度約2微米的氧化膜層。即使特別穩(wěn)定的貴金屬金,由于它的表面能較高,其表面也會形成一層有機氣體吸附膜。此外,大氣中的塵埃等也會在接觸件表面形成沉積膜。因而,從微觀分析任何接觸面都是一個污染面。

接觸電阻測試

影響接觸電阻的因素

1、接觸形式

2、接觸壓力

3、接觸表面的光潔度

4、接觸電阻在長期工作中的穩(wěn)定性

5、溫度

6、材料性質

7、使用電壓和電流

接觸電阻測試要求標準

1、用300V絕緣電阻表進行測試。

2、所測產品的接觸電阻應該小于1Q。

3、試驗產品需在5PCS以上。

接觸電阻測試內容

對斷路器觸點進行的兩個常見檢查是外觀檢查和接觸電阻檢查。

1.外觀檢查包括檢查斷路器觸頭是否因電弧和觸頭磨損或變形而產生凹痕。

2.第二項檢查是接觸電阻測量。這涉及通過觸點注入固定電流,通常約為100A,200A和300A,并測量其兩端的電壓降。該測試是使用特殊的接觸電阻測量儀器完成的。然后,使用歐姆定律計算電阻值。電阻值需要與制造商給出的值進行比較。該值也應與以前的記錄進行比較。

這兩個測試需要一起完成。由于存在接觸器具有良好的接觸電阻但仍處于損壞狀態(tài)的情況。因此,要使接觸器被證明是健康的,它需要具有良好的接觸電阻,并應清除外觀檢查測試。

接觸電阻測試方法步驟

1.測試標準

評估電氣連接的接觸電阻的標準很大程度上取決于連接的類型(例如,螺栓連接,焊接,夾緊,焊接等),金屬接觸表面積,接觸壓力等。這些因設備和設備而異。制造商,沒有法規(guī)或標準規(guī)定最小的接觸電阻。因此,需要參考制造商的建議。例如,制造商有時會引用大型螺栓母線接頭的最大接觸電阻為10微歐。接觸電阻測量及其應用領域相當廣泛。

2.電氣連接

電路的電連接具有多種方式和手段,例如通過焊接,壓制,插入和緊密粘結等方式進行連接。如果您想了解連接器的質量及其導電特性,只需測量其接觸電阻即可。接觸電阻通常用于開關,繼電器和PCB焊盤的質量測試中。

在機械組件的方面,金屬接觸表面的接觸電阻可以用于估計機械組件的可靠性和緊密性。接觸電阻與接觸表面的導電特性有關。成對金屬表面的面積越大且雜質越少,則導電性越好,電阻越低,反之亦然。

通過測量接觸電阻,我們可以定性分析機械組件的可靠性和緊密性。該技術已被用于EMC屏蔽組件的質量測試中。不同應用的測量方法不相同。例如,在測量大功率開關和繼電器的接觸電阻的情況下,應使用大電流,一對觸點,就像在工作狀態(tài)下實際發(fā)生的情況一樣。對于干式電路連接器,測試電流應低以防止接頭因熱而熔化(電流小于100mA)。

3.機械組裝

在測試機械裝配質量時,應根據(jù)不同的結構選擇不同的測試電路。有兩種結構,閉環(huán)結構是封閉的,非閉環(huán)結構是開放的。他們的測量方法完全不同。

接觸電阻測試的典型方法

四線(開爾文)直流電壓降是微歐姆表用于接觸電阻測試的典型方法,通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻,可確保更精確的測量。

接觸電阻測試使用兩個用于注入的電流連接,以及兩個用于電壓降測量的電位引線; 電壓電纜必須盡可能靠近待測連接,并且始終在由連接的電流引線形成的電路內。

從電壓降的測量,微處理器控制的微歐姆計算接觸電阻,同時消除由于連接中的熱EMF效應可能產生的誤差(熱電動勢是兩種不同金屬連接在一起時產生的小熱電偶電壓)它們將被添加到測量的總電壓降中,如果不通過不同的方法從測量中減去它們(極性反轉和平均,直接測量熱EMF幅度等),它們將在接觸電阻測試中引入誤差。

如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù),則建議以更高的電流重新測試觸點。為什么我們會利用更高的電流獲益?較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化,其中較低的電流可能在這些條件下產生錯誤(較高)的讀數(shù)。

在接觸電阻測試中,保持一致的測量條件非常重要,能夠與趨勢分析的先前和未來結果進行比較。因此,在進行定期測量時,必須在相同位置進行接觸電阻測試,使用相同的測試引線(始終使用制造商提供的校準電纜),并在相同條件下,以便能夠知道何時進行接合,連接,焊接或設備將變得不安全。

接觸電阻測試的目的

需要定期檢查斷路器中的觸點,以確保斷路器健康且功能正常。接觸不良或接觸不良會導致電弧放電,失相,甚至起火。該測試對于承載大量電流的觸點(例如開關設備母線)尤為重要,因為較高的接觸電阻會導致較低的載流量和較高的損耗。Ductor測試通常使用微/毫歐表或低歐姆表進行。接觸電阻的測量有助于識別觸點的微動腐蝕,并且可以診斷和防止接觸腐蝕。接觸電阻的增加會導致系統(tǒng)中的高壓降,并且需要進行控制。

接觸電阻測試說明

1、接觸電阻試驗合格不等于接觸可靠。試驗證明僅用檢測靜態(tài)接觸電阻是否合格,并不能保證動態(tài)壞境下使用接觸可靠。

2、接觸電阻主要受接觸材料,表面狀態(tài)等因素影響。

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