集成電路綜合性能測試方法及要點(diǎn)
日期：2021-12-28 13:50:00 瀏覽量：2011 標(biāo)簽: 性能測試
一個(gè)電子產(chǎn)品從剛剛開始的模型，再到能夠出產(chǎn)到消費(fèi)者的手中，其中，關(guān)系到這個(gè)電子產(chǎn)品是否能夠出廠的一個(gè)重要的事情，就是看看這個(gè)電子產(chǎn)品是否能通過可靠性測試設(shè)備的測試。所有的產(chǎn)品要出廠能夠銷售到消費(fèi)者的手里，必須要有合格證，而電子產(chǎn)品要想拿到合格證，就得通過可靠性測試設(shè)備的測試，這個(gè)可靠性測試設(shè)備的工作原理就是模擬一個(gè)電子產(chǎn)品工作環(huán)境，讓這些電子產(chǎn)品在不同的環(huán)境比如高溫、高濕度的環(huán)境，去測試這些電子產(chǎn)品的耐高溫、耐濕度的工作能力，通過這些可靠性測試設(shè)備的檢測，可以知道該類型的電子產(chǎn)品還有什么薄弱的缺點(diǎn)，幫助提供該電子產(chǎn)品的功能。
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一、電壓法判斷數(shù)字集成電路好壞
1、如果數(shù)字集成電路的供電電壓正常，焊接良好，而測得其電源引腳的電壓值過低，則可判定該被測數(shù)字集成電路已損壞。
2、如果測得數(shù)字集成電路電源電壓引腳的電壓值正常，但其他引腳的電壓值大多失常，則說明接地引腳是虛焊，而該集成電路大多正常。
3、如果測得數(shù)字集成電路的個(gè)別或少數(shù)幾個(gè)引腳的電壓值偏離正常值較大，則應(yīng)先檢查與這個(gè)引腳所對應(yīng)原外圍元器件電路是否有故障，如電阻短路、斷路、電容漏電或被擊穿等。若外圍元器件電路無故障，則說明該被測數(shù)字集成電路已損壞。
4、如果測得數(shù)字集成電路的大多數(shù)引腳的電壓值均偏離正常值較多，并且其供電電源電壓正常、電源和接地引腳都沒虛焊，則可判定該數(shù)字集成電路已損壞。
二、TTL電路質(zhì)量性能的檢測
仔細(xì)觀察TTL集成電路的型號(hào)，查找相關(guān)數(shù)據(jù)手冊，找出該集成電路的接地端，最好能查到其內(nèi)部電路圖或接線圖。
將萬用表的選擇開關(guān)撥至R×1K檔，黑表筆接待測集成電路的接地端，紅表筆依次測試各輸入端和輸出端對地的直流電阻值。正常情況下，集成電路各引腳對地電阻值應(yīng)為3~10kΩ。若某一引腳對地電阻阻值小于1 kΩ或大于12 kΩ，則該集成電路已經(jīng)損壞。
將萬用表紅筆接地，用黑表筆依次測試集成電路各輸入端和輸出端。在正常情況下，各端對地的反向電阻值均應(yīng)大于40 kΩ。而損壞的集成電路各引腳對地電阻值則低于1 kΩ。正常的TTLT電路的電源正、負(fù)引腳，其正向電阻值與反向電阻值均較其他引腳對地電阻值小，最大不超過10 kΩ。若此值為零或無窮大，則說明此集成電路的電源引腳已損壞。
三、電壓法區(qū)分TTL電路與CMOS電路
根據(jù)其型號(hào)區(qū)分，如CC4000、CD4006和MC14021均屬于CMOS電路，而CT3020和74系列均屬于TTL電路。
根據(jù)其電源電壓區(qū)分，在不知道數(shù)字集成電路型號(hào)的情況下，若其能在3~4.5V或5.5~18V的電壓下正常工作，則可以肯定它是CMOS電路。也可用萬用表測試集成電路的輸出電平，當(dāng)電源電壓為5V時(shí)，將電路的輸入端接高電平、低電平，再用萬用表測試輸出端，測試出的高低電平之差若接近5V，則是CMOS集成電路;若接近3.5V，則是TTL集成電路。
根據(jù)其輸出電平的電壓值來區(qū)分：以最簡單的門電路為例，電源電壓選用5V，將萬用表置于直流電壓10V檔，把集成電路的輸入端依次接高、低電平，分別測量其輸出端的高、低電平所對應(yīng)的電壓值。如果它們之間的差值接近5V，則它是CMOS電路;如果它們之間的差值接近3.5V，則它是TTL電路。
四、區(qū)分CMOS電路與高速CMOS電路
由于CMOS電路的電源電壓為3~18V，而高速CMOS電路電源電壓為2~6V，因此當(dāng)給集成電路加上2~2.5V的電壓后，若集成電路正常工作，則說明集成電路是高速CMOS電路，否則，此集成電路是CMOS電路。
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