電子跌落可靠性測試試驗的方法標(biāo)準(zhǔn)及流程
日期：2022-01-21 13:59:00 瀏覽量：2243 標(biāo)簽: 跌落試驗標(biāo)準(zhǔn) 電子產(chǎn)品檢測 可靠性試驗
跌落試驗通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力分為包裝跌落和裸機跌落。裸機跌落主要考量產(chǎn)品在正常使用過程中抗意外跌落沖擊的能力。包裝跌落也可以反映包裝件在受到垂直跌落時候的對產(chǎn)品的保護(hù)能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。
一、測試程序
跌落測試程序通常情況下可以參照如下步驟：
1、測試前樣板的準(zhǔn)備。
2、測試前須測試產(chǎn)品的功能、安全及外觀檢查,確定正常之后方可進(jìn)行跌落測試。
3、須按規(guī)定的方法包裝樣品(參照生產(chǎn)指令或規(guī)格書),且配件不可漏放。
4、若對封箱有特別要求(如打帶)則按要求進(jìn)行，若無特別要求則:包盒用2寸透明膠紙封箱,外卡通箱用3寸透明膠紙封箱。
5、測試樣品不可少于2整箱或4PCS成品。
6、跌落順序。
7、接縫邊之底角。
二、操作流程
1、接線:將隨機附帶之電源線接入三相電源并接地,將控制箱與測試機亦用隨機所帶之連接線按插頭適配情況接好,并試運行上升/下降命令。(若試運行時出現(xiàn)按上升鍵卻向下運行或按下降鍵卻運行上升之情況,只需在電源處調(diào)換相數(shù)即可。
2、跌落高度調(diào)整：打開主機電源,設(shè)定測試所需高度(方法如下),按上升鍵使之達(dá)到所設(shè)高度;若在中途停止,則必須使之達(dá)到設(shè)定高度后才可以執(zhí)行反向運行命令;
3、將被測物體放于工作臺面，然后用固定桿加以固定;
4、按上升鍵使被測物體提升至設(shè)定高度;
5、按跌落鍵使工作臺面瞬間脫離被測物體，被測物體做自由跌落運動;
6、按復(fù)位鍵使工作臺恢復(fù)工作狀態(tài);
7、若重復(fù)測試,則重復(fù)上述步驟;
8、測試完后：按降低鍵使工作臺面運作至最低位置關(guān)閉電源鍵。
三、跌落高度
針對跌落測試國家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。分90cm、76cm、65cm幾個等級裝貨物重量(lbs)/(kg)落下高度(inches)/(cm)
1~20.99lbs(0.45~9.54kg)30in/(76.20cm)
21~40.99lbs(9.55~18.63kg)24in/(60.96cm)
41~60.99lbs(18.64~27.72kg)18in/(45.72cm)
61~100lbs(27.73~45.45kg)12in/(30.48cm)
四、跌落測試的目的
跌落測試是為了檢測產(chǎn)品在使用的過程中,抵抗投擲、跌落的能力。釋放試驗樣品的方法應(yīng)使試驗樣品從懸掛著的位置自由跌落，釋放時，要使干擾最小。
五、方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落》。
IEC60068-2-32《自由跌落試驗方法》。
GB-T4857.5包裝運輸包裝件跌落試驗方法。
ASTM D 5276-98(2009)
