怎么理解可靠性測(cè)試?可靠性測(cè)試包括哪些檢測(cè)項(xiàng)目?

可靠性測(cè)試也稱可靠性評(píng)估，指根據(jù)產(chǎn)品可靠性結(jié)構(gòu)、壽命類型和各單元的可靠性試驗(yàn)信息，利用概率統(tǒng)計(jì)方法，評(píng)估出產(chǎn)品的可靠性特征量。軟件可靠性是軟件系統(tǒng)在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)以及規(guī)定的環(huán)境條件下，完成規(guī)定功能的能力。一般情況下，只能通過(guò)對(duì)軟件系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試來(lái)度量其可靠性。

可靠性試驗(yàn)主要包括：

1、氣候環(huán)境測(cè)試：高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、快速溫變測(cè)試、低氣壓測(cè)試、光老化測(cè)試、腐蝕測(cè)試等。

2、機(jī)械環(huán)境測(cè)試：振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、碰撞測(cè)試、跌落測(cè)試。

3、綜合環(huán)境測(cè)試：溫度+濕度+振動(dòng)/沖擊/碰撞、HALT/HASS/HASA、溫濕度堆碼試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)。

4、包材及包裝運(yùn)輸測(cè)試：環(huán)境溫濕度測(cè)試、堆碼測(cè)試、包裝抗壓測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、跌落測(cè)試、碰撞測(cè)試、水平夾持測(cè)試、低氣壓測(cè)試。

5、IP防護(hù)測(cè)試：防塵試驗(yàn)、防水試驗(yàn)。

6、物理性能測(cè)試：百格測(cè)試、耐磨測(cè)試、劃痕測(cè)試、插拔測(cè)試、彎折測(cè)試、色牢度測(cè)試、防火/燃燒測(cè)試；搖擺測(cè)試、按鍵壽命測(cè)試、硬度測(cè)試、落錘沖擊/擺錘沖擊測(cè)試、拉伸強(qiáng)度/抗壓強(qiáng)度/屈服強(qiáng)度測(cè)試、熔融指數(shù)測(cè)試。

7、電磁兼容環(huán)境測(cè)試：射頻性能測(cè)試、SAR測(cè)試、OTA測(cè)試、HAC測(cè)試、TCOIL測(cè)試、數(shù)字電視機(jī)性能測(cè)試、音視頻產(chǎn)品性能測(cè)試、衛(wèi)星導(dǎo)航產(chǎn)品（GPS）性能測(cè)試、平板顯示性能測(cè)試、醫(yī)療器械注冊(cè)檢測(cè)、電信進(jìn)網(wǎng)許可檢測(cè)。

8、電學(xué)性能測(cè)試：溫升測(cè)試、耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、介電強(qiáng)度測(cè)試、接觸電阻測(cè)試、表面電阻率測(cè)試、接地電阻測(cè)試。

9、失效分析測(cè)試：表面/極表面微觀測(cè)量與分析、無(wú)損測(cè)量與分析、電性能測(cè)量與分析、物理性能測(cè)量與分析、焊接工藝測(cè)量與分析、PCB/PCBA測(cè)量與分析、電子元器件測(cè)量與分析、塑膠/橡膠/高分子材料測(cè)量與分析、金屬材料測(cè)量與分析。 

可靠性檢測(cè)分類方法:

1.如以環(huán)境發(fā)展條件來(lái)劃分,可分為包括通過(guò)各種各樣應(yīng)力條件下的模擬系統(tǒng)測(cè)試和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試;

2. 試驗(yàn)項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)

3.若按測(cè)試研究目的來(lái)劃分,則可分為篩選進(jìn)行測(cè)試、鑒定系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收通過(guò)測(cè)試;

4. 按試驗(yàn)性質(zhì)也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。

可靠性測(cè)試試驗(yàn):

1、溫度下限工作試驗(yàn):受試樣品先加電運(yùn)行測(cè)試程序進(jìn)行初試檢測(cè)。在受試樣品不工作的條件下，將箱內(nèi)溫度逐漸降到0℃,待溫度穩(wěn)定后，加電運(yùn)行測(cè)試程序5h，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，試驗(yàn)完后，待箱溫度回到室溫，取出樣品，在正常大氣壓下恢復(fù)2h。

2、低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)將樣品放入低溫箱，使箱溫度降到-20℃，在受試樣品不工作的條件下存放16h，取出樣品回到室溫，再恢復(fù)2h，加電運(yùn)行測(cè)試程序進(jìn)行檢驗(yàn)，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀無(wú)明顯偏差。為防止試驗(yàn)中受試樣品結(jié)霜和凝露，允許將受試樣品用聚乙稀薄膜密封后進(jìn)行試驗(yàn)，必要時(shí)還可以在密封套內(nèi)裝吸潮劑。

3、溫度上限工作試驗(yàn)受試樣品先進(jìn)行初試檢測(cè)。在受試樣品不工作的條件下，將箱溫度逐漸升到40℃，待溫度穩(wěn)定后，加電運(yùn)行系統(tǒng)診斷程序5h，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，試驗(yàn)完后，待箱溫度回到室溫，取出樣品，在正常大氣壓下恢復(fù)2h。

4、高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)將樣品放入高溫箱，使箱溫度升到55℃，在受試樣品不工作的條件下存放16h，取出樣品回到室溫，恢復(fù)2h。

上述就是為您介紹的有關(guān)可靠性測(cè)試的項(xiàng)目的內(nèi)容，對(duì)此您還有什么不了解的，歡迎前來(lái)創(chuàng)芯檢測(cè)官網(wǎng)咨詢。深圳創(chuàng)芯在線檢測(cè)技術(shù)有限公司是國(guó)內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1000平米以上。檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)、元器件X-Ray檢測(cè)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。