一文了解失效分析發(fā)展及實(shí)施步驟
日期：2022-04-29 14:20:00 瀏覽量：1287 標(biāo)簽: 失效分析
失效分析的基本概念：失效分析對(duì)產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義，失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個(gè)階段，涉及產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計(jì)、來(lái)料檢驗(yàn)、加工組裝、測(cè)試篩選、使用等各個(gè)環(huán)節(jié)，通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗(yàn)失效、中試失效以及現(xiàn)場(chǎng)失效的樣品，確認(rèn)失效模式、分析失效機(jī)理，明確失效原因，最終給出預(yù)防對(duì)策，減少或避免失效的再次發(fā)生。
失效的分類
我們常說(shuō)的失效從失效模式和失效機(jī)理上來(lái)說(shuō)，一般按下述方法進(jìn)行分類：
1、斷裂失效：斷裂失效常分為韌性斷裂和脆性斷裂兩類，而脆性斷裂又分為低溫脆性斷裂、輻射脆化斷裂、氫損傷（氫脆）、應(yīng)力腐蝕、液態(tài)金屬脆化、液體侵蝕損傷、高溫應(yīng)力斷裂（即蠕變斷裂）、疲勞斷裂這幾種。
2、非斷裂失效：基本分為磨損失效、腐蝕失效、變形失效幾種，磨損失效一般包含磨粒磨損、粘著磨損兩種，腐蝕失效分為氧化腐蝕和電化學(xué)腐蝕兩種，變形時(shí)效分為彈性變形和塑性變形失效兩種。
3、復(fù)合失效機(jī)理，顧名思義就是多種失效機(jī)理綜合作用而成導(dǎo)致的失效，例如低周疲勞導(dǎo)致的斷裂即是韌性斷裂和疲勞斷裂兩種機(jī)理復(fù)合作用而成的，再如機(jī)件受高溫應(yīng)力+電化學(xué)腐蝕復(fù)合作用下，會(huì)出現(xiàn)燒蝕熱蝕的失效現(xiàn)象等等。
失效的發(fā)展過程
產(chǎn)品失效的發(fā)展過程一般遵循“浴盆曲線”狀，可以將其分為三個(gè)時(shí)期：
1、早期失效期，即產(chǎn)品使用初期，由于設(shè)計(jì)缺陷或者制造缺陷而導(dǎo)致明顯的失效。
2、偶然失效期，在理想狀況下，產(chǎn)品是不應(yīng)出現(xiàn)“失效”現(xiàn)象的，而由于環(huán)境、操作方法、管理不善等原因?qū)е碌臐撛谌毕?，?huì)在某一時(shí)期導(dǎo)致偶然的失效，該階段稱為偶然失效期。
3、磨損失效期，該階段是產(chǎn)品在出現(xiàn)失效萌芽之后的曲線增長(zhǎng)到最終失效期，又稱為損耗失效。
產(chǎn)品按照其失效發(fā)展過程分類對(duì)于可靠性工程來(lái)說(shuō)是十分有用的。
失效分析的實(shí)施步驟
1、保護(hù)失效現(xiàn)場(chǎng)；基本原則就是保護(hù)現(xiàn)場(chǎng)的一切證據(jù)維護(hù)其原狀。
2、偵察失效現(xiàn)場(chǎng)，收集背景材料；現(xiàn)場(chǎng)偵察并記錄的項(xiàng)目包括但不限于以下內(nèi)容：
（1）失效部件及碎片的尺寸大小、形狀和散落方位；
（2）周圍散落的金屬屑、粉末、氧化皮、潤(rùn)滑殘留物及一切可疑物質(zhì)等；
（3）失效部件表面特征；
（4）設(shè)備或部件的特征；
（5）周圍環(huán)境條件。
3、聽取操作人員及佐證人員描述失效現(xiàn)象：
（1）制定失效分析計(jì)劃；
（2）執(zhí)行失效分析計(jì)劃；
（3）綜合評(píng)定失效分析結(jié)果；
（4）研究補(bǔ)救措施和預(yù)防措施；
（5）起草、評(píng)審并最終提出失效分析報(bào)告。
失效分析是對(duì)機(jī)電產(chǎn)品出現(xiàn)失效現(xiàn)象后的系統(tǒng)工作，它可以為后續(xù)的產(chǎn)品開發(fā)、設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)及維護(hù)等方面提供技術(shù)基礎(chǔ)和前提條件，是生產(chǎn)過程中的安全保障。深圳創(chuàng)芯在線檢測(cè)技術(shù)有限公司是國(guó)內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1000平米以上。檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)、元器件X-Ray檢測(cè)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。
