可靠性分析 電子產(chǎn)品包裝跌落測試的標(biāo)準(zhǔn)及判定準(zhǔn)則
日期：2022-07-07 15:35:29 瀏覽量：1860 標(biāo)簽: 可靠性分析 跌落試驗標(biāo)準(zhǔn)
包裝運輸?shù)恼駝訙y試，其實影響包裝運輸質(zhì)量評估的因素遠(yuǎn)不止這些。包裝跌落測試是為了產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面與不同的高度跌落于地面時的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強度，從而根據(jù)產(chǎn)品實際情況及國家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計。
跌落測試
跌落測試作為沖擊測試中的一部分，一般是指產(chǎn)品包裝好后，模擬不同的棱、角、面于不同的高度上自由跌落于地面時的實際情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強度。從而根據(jù)產(chǎn)品實際情況及標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計。適用于包裝件在裝卸搬運過程中，遭遇意外跌落的情況。小型運輸包裝件一般采用自由跌落方式；而大型包裝運輸件一般則做旋轉(zhuǎn)棱、旋轉(zhuǎn)角或旋轉(zhuǎn)面跌落測試。
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跌落試驗的標(biāo)準(zhǔn)
參考標(biāo)準(zhǔn)如下：
GB/T2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落
IEC60068-2-32電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落
GB/T4857.5包裝運輸包裝件跌落試驗方法
包裝跌落測試試驗的條件
跌落測試試驗條件：試驗表面，釋放高度，釋放方法，確定3個參數(shù)后可利用試驗儀器，對產(chǎn)品進(jìn)行的跌落測試
a、包裝從很高的高度跌落的概率非常小。
b、多數(shù)包裝從低高度處會摔落許多次，而相對較少的包裝在較高高度處會摔落多次。
c、與單包裝相比，組合包裝受到的跌落次數(shù)更少且高度更低。
d、多數(shù)包裝都是基于其更穩(wěn)定方向運輸，面跌落占跌落總數(shù)的一半以上。
e、包裝越重，跌落高度越低。
f、包裝越大，跌落高度越低。
g、包裝帶提手可能降低跌落高度。
h、帶有提醒標(biāo)簽如易碎、小心輕放等可能會降低跌落次數(shù)，但作用不是很明顯。
包裝跌落試驗的注意事項
1.包裝接縫處的判定
包裝跌落試驗不可少的會找到包裝接縫處，其實每個包裝都非常容易判斷了。
2.包裝破損可接受的程度
對于外包裝穿透包裝的孔直徑小于20mm，小于50mm的裂縫或者折角壓皺的凹痕小于25mm可以接受，但是對于超出此范圍的包裝破損則不可接受，包裝需要進(jìn)行設(shè)計改善來保障包裝跌落性能，新包裝的包裝跌落試驗必須再次執(zhí)行以驗證設(shè)計更改的有效性。
3.包裝放置時間
對于紙質(zhì)的包裝材料不接受長時間存放后再拿來進(jìn)行跌落試驗，推薦在包裝材料生產(chǎn)后的5個工作日內(nèi)進(jìn)行試驗，因為紙質(zhì)包裝材料放置后會吸收空氣中的濕氣而影響包裝的實際性能。
4.包裝跌落是否可以使用模擬產(chǎn)品來代替實際產(chǎn)品
當(dāng)一個包裝可以放置的產(chǎn)品數(shù)量較多時，可能會出現(xiàn)無法準(zhǔn)備足夠的產(chǎn)品來填滿一個包裝，是不是可以用類似的其它物品來替代呢？答案是可以得，相應(yīng)的原則是體積、重量和重量的分布需要基本一致，可以按照此標(biāo)準(zhǔn)來定制相應(yīng)的替代物。
5.試驗中斷
對于試驗條件的中斷時間在允許誤差范圍內(nèi)的不記為一次中斷。如果試驗條件的中斷時間超過了誤差允許范圍，則需要繼續(xù)恢復(fù)試驗條件進(jìn)行試驗以保證試驗中斷前的時間和試驗中斷后恢復(fù)試驗條件后的持續(xù)試驗時間的總和滿足試驗要求。但是如果出現(xiàn)試驗中斷的，推薦此次試驗做無效處理，此項試驗需要完全重新執(zhí)行，終以重新執(zhí)行的試驗結(jié)果為準(zhǔn)。
總結(jié)，包裝對產(chǎn)品的保護(hù)安全與否，直接關(guān)系到商家的經(jīng)濟(jì)利潤。由于包裝運輸方式的多樣性，貨物在運輸時具備各種不確定因素，而包裝運輸測試則是可以幫助相關(guān)企業(yè)預(yù)先評估和保障包裝件在運輸環(huán)境下的質(zhì)量，提升貨件包裝的可靠性。深圳創(chuàng)芯在線檢測技術(shù)有限公司是國內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測機(jī)構(gòu)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實驗室3個，實驗室面積1000平米以上。檢測服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測試驗證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計選料、失效分析，功能檢測、工廠來料檢驗、元器件X-Ray檢測以及編帶等多種測試項目。
