電子元器件檢測(cè)方法 為什么要做高低溫濕度測(cè)試?

日期:2022-09-28 11:52:09 瀏覽量:1184 標(biāo)簽: 高低溫濕度測(cè)試 電子元器件檢測(cè)

電子電工產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來(lái)越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確的選擇產(chǎn)品的環(huán)境保護(hù)措施,才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞,在使用過(guò)程中安全可靠。在我們的大自然環(huán)境中,溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)自然因素,不同地區(qū)由于不同的地理位置,產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。因此,對(duì)電子電工產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用等各個(gè)環(huán)節(jié)中都安全可靠。

電子元器件檢測(cè)方法 為什么要做高低溫濕度測(cè)試?

高低溫測(cè)試主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。測(cè)試設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露,老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量,篩選剔除失效或變值的元器件,盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之前,從而保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。

現(xiàn)在需要電子產(chǎn)品都要求滿(mǎn)足濕度環(huán)境測(cè)試,做濕度測(cè)試,一般是為了盡早找出產(chǎn)品在設(shè)計(jì)上是否存在較脆弱的零組件,是否有制程上的問(wèn)題或者故障模式,以提供產(chǎn)品品質(zhì)設(shè)計(jì)上的改進(jìn)參考。為了確保產(chǎn)品的性能,測(cè)試時(shí)會(huì)用到各種不同的溫濕度指標(biāo)以及時(shí)間間隔,期間每個(gè)階段的測(cè)試都必須通過(guò)并符合規(guī)格要求。

有些容易吸濕的材料,比如印刷電路板,塑料擠出件,封裝零件等,將會(huì)隨著暴露于水蒸氣的壓力以及時(shí)間成正比的吸收水分,當(dāng)材料吸收了過(guò)多的水分時(shí)就會(huì)引起膨脹或者污染和短路,甚至?xí)茐牡疆a(chǎn)品的功能,比如在一些比較敏感電路間引起漏電流并導(dǎo)致產(chǎn)品失效,有些化學(xué)殘留物甚至?xí)驗(yàn)樗斐呻娐钒鍑?yán)重的腐蝕或引起金屬表面氧化等反應(yīng)。在某些情況下,相鄰線路間也會(huì)因?yàn)樗约半妷翰疃l(fā)電子遷移效應(yīng)而形成樹(shù)突細(xì)絲,導(dǎo)致產(chǎn)品系統(tǒng)不穩(wěn)定等問(wèn)題。

這些試驗(yàn)是用來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括以下:

第一是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;第二是潛在的缺陷,這類(lèi)缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

以上便是此次創(chuàng)芯檢測(cè)帶來(lái)的“電子產(chǎn)品高低溫濕度測(cè)試”相關(guān)內(nèi)容,如果我們的產(chǎn)品存在這樣的問(wèn)題,那么必須加以各種環(huán)境測(cè)試,用來(lái)加速這些故障機(jī)制的發(fā)生,進(jìn)而了解產(chǎn)品的可能問(wèn)題點(diǎn)。今天的內(nèi)容就分享到這里了,如果覺(jué)得內(nèi)容對(duì)您有幫助的話,歡迎關(guān)注創(chuàng)芯檢測(cè),我們將為您提供更多行業(yè)資訊!

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