ic芯片短路檢測(cè)方法及現(xiàn)象分析

日期:2021-12-20 17:23:52 瀏覽量:3159 標(biāo)簽: 芯片檢測(cè) ic芯片

芯片其實(shí)是集成電路的聚集地。一個(gè)芯片擁有成千上萬(wàn)的集成晶格組成。但具體的芯片集成度的高低與密集是由芯片的功能與作用而決定的。

IC芯片損壞這種現(xiàn)象也是存在的,但前提條件是給芯片供電電源太高,或電流過(guò)大,都會(huì)導(dǎo)致芯片內(nèi)部電路由于超過(guò)其極限工作電流電壓而導(dǎo)致芯片損壞。 另一種損壞芯片的方式是由于芯片實(shí)際電路中發(fā)生故障而導(dǎo)致芯片瞬間大電流與大電壓而產(chǎn)生的損壞。 再有一種情況就是,芯片由于做工有瑕疵,而導(dǎo)致芯片在一上電的過(guò)程中損壞。 還有就是芯片由于操作不當(dāng),防靜電措施沒(méi)有做好,導(dǎo)致芯片由于受靜電而損壞。在生活中處處有靜電,且靜電的危害很大。如果沒(méi)有做好防靜電措施,很多芯片器件的損壞很難查找到原因。 

ic芯片短路檢測(cè)方法及現(xiàn)象分析

一臺(tái)變頻器,開(kāi)關(guān)電源出現(xiàn)間歇振蕩現(xiàn)象,操作顯示面板也時(shí)亮?xí)r熄。此為開(kāi)關(guān)電源負(fù)載過(guò)重或存在短路狀態(tài)的典型故障,負(fù)載異常引發(fā)了開(kāi)關(guān)電源電流檢測(cè)電路的保護(hù)動(dòng)作,使開(kāi)關(guān)電源處于間歇振蕩狀態(tài)。

用逐路脫開(kāi)負(fù)載電路的方法,排查短路故障是出在哪路負(fù)載電路,或停電后,測(cè)各路供電電源的輸出端,是否有阻值變小或短路現(xiàn)象。測(cè)量+5V電源兩端,呈現(xiàn)7.8Ω的小電阻值,而正常的電路阻值約為數(shù)百Ω。判斷+5V負(fù)載電路有短路現(xiàn)象,將+5V負(fù)載電路脫開(kāi)后,開(kāi)關(guān)電源有了穩(wěn)定輸出,說(shuō)明故障就在+5V負(fù)載電路。

+5V供電電源由排線端子去了CPU主板,供CPU芯片及外圍電路,電路范圍比較廣,CPU主板上+5V供電的集成電路比較多,達(dá)二十幾片,用常規(guī)排除法檢查短路故障的,須將各片IC電路的+5V供電腳挑開(kāi),配合電源輸出端電阻值的檢測(cè),當(dāng)挑開(kāi)某片IC供電腳,電源輸出端7.8Ω的小阻值變?yōu)檎5碾娮柚岛?,說(shuō)明該片IC即存在短路故障,當(dāng)然測(cè)量挑開(kāi)IC的供電腳,檢測(cè)其供電引腳的電阻值也是一樣。

無(wú)法預(yù)測(cè)需要挑開(kāi)多少片IC后,才能找到故障IC。CPU主板元件焊接的“精致程度”已艱接近于手機(jī)的線路板,IC電路全為貼片元件,將IC引腳的銅箔條非常細(xì)。

由于變頻器的開(kāi)關(guān)電源本身負(fù)載能力有限,接于故障電路時(shí)會(huì)引發(fā)過(guò)流保護(hù),使開(kāi)關(guān)電源停止輸出。故采用外接容量較大的+5V電源,串接5Ω5W限流電阻接到CPU主板上,通電幾分鐘后,用手觸摸CPU主板上的IC芯片,哪片燙手,有異常溫升,即是哪片IC已經(jīng)壞掉了。挑開(kāi)兩片有異常溫升的IC供電引腳,測(cè)其引腳電阻,均在十幾Ω左右。此時(shí)再測(cè)+5V電源輸出端,已經(jīng)是數(shù)百Ω的正常阻值了。

這個(gè)方法利用外接+5V供電,既對(duì)好的IC沒(méi)什么危害,又使壞IC持續(xù)升溫,暴露在手指的“測(cè)溫儀”下。特別適宜于檢測(cè)CPU主板上出現(xiàn)的IC短路故障。一般遇到電路板的短路故障,通過(guò)電路分析又無(wú)好的維修思路,在短路的電路部位直接外接合適的外部供電,用手摸或者用熱成像檢查發(fā)熱的IC等,快速發(fā)現(xiàn)短路的元件,往往在維修短路故障的電路板時(shí),此種方法可以提供極大的幫助。

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