芯片相關(guān)資訊
IC供應(yīng)鏈漲成什么樣了?一份原廠調(diào)價(jià)函展露無遺
進(jìn)入第二季度,芯片缺貨漲價(jià)仍舊持續(xù)。在4月份,不少海內(nèi)外芯片廠商先后發(fā)函漲價(jià)、暫停接單,與此同時(shí)晶圓代工也開始新一輪漲價(jià)。種種跡象表明,芯片缺貨漲價(jià)鐵定是要達(dá)到一個(gè)新的高度了,“后疫情時(shí)代”的市場注定不平凡。
2021-05-07 15:36:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程
一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對大家有所幫助。
2021-04-26 16:41:00
查看詳情
熱門文章
什么是電氣性能?電氣性能測試包括什么?
UV測試是什么?UV測試通用檢測標(biāo)準(zhǔn)及流程
焊縫檢測探傷一級二級三級標(biāo)準(zhǔn)是多少?
芯片開蓋(Decap)檢測的有效方法及全過程細(xì)節(jié)
芯片切片分析是什么?如何進(jìn)行切片分析試驗(yàn)?
溫升測試(Temperature rise test)-電性能測試
CNAS認(rèn)證是什么?實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行CNAS認(rèn)可的目的及意義
什么是IC測試?實(shí)現(xiàn)芯片測試的解決方法介紹
芯片發(fā)熱是不是芯片壞了?在多少溫度下會損壞
熱門標(biāo)簽